DB-FIB
Hizmet Tanıtımı
Günümüzde DB-FIB (Çift Işın Odaklı İyon Demeti) aşağıdaki alanlarda araştırma ve ürün incelemesinde yaygın olarak kullanılmaktadır:
Seramik malzemeler，Polimerler，Metalik malzemeler，Biyolojik çalışmalar，Yarı iletkenler,Jeoloji
Hizmet kapsamı
Yarı iletken malzemeler, organik küçük molekül malzemeler, polimer malzemeler, organik/inorganik hibrit malzemeler, inorganik metalik olmayan malzemeler
Hizmet Geçmişi
Yarı iletken elektroniği ve entegre devre teknolojilerindeki hızlı ilerlemeyle birlikte cihaz ve devre yapılarının giderek karmaşıklaşması, mikroelektronik çip proses teşhisi, arıza analizi ve mikro/nano üretim gereksinimlerini artırmıştır.Çift Işınlı FIB-SEM sistemiGüçlü hassas işleme ve mikroskobik analiz kabiliyetleriyle mikroelektronik tasarım ve imalatında vazgeçilmez hale gelmiştir.
Çift Işınlı FIB-SEM sistemiOdaklanmış İyon Demeti (FIB) ve Taramalı Elektron Mikroskobu'nu (SEM) bir araya getirir. Elektron demetinin yüksek mekansal çözünürlüğünü iyon demetinin hassas malzeme işleme yetenekleriyle birleştirerek FIB tabanlı mikroişleme süreçlerinin gerçek zamanlı SEM gözlemini sağlar.
Hizmet Öğeleri
Alan-Özel Kesit Hazırlama
TEM Örnek Görüntüleme ve Analizi
SSeçmeli Aşındırma veya Gelişmiş Aşındırma Denetimi
Metal ve Yalıtım Katmanı Biriktirme Testi
-
Telefon
-
E-posta
-
Tepe